在上一章中我們講解了Sequence序列參數(shù)卡中第一部分的參數(shù)，在該參數(shù)卡中將掃描序列使用的維度,、對比數(shù),、采樣帶寬等參數(shù)進行了規(guī)定。在Part2參數(shù)卡中將對序列參數(shù)卡中其他參數(shù)進行完善,，包括使用的射頻脈沖類型,，梯度類型等等。此章將針對Sequence序列參數(shù)卡中Part2和Assistant兩個子參數(shù)卡進行介紹,。Part2參數(shù)卡中各參數(shù)的顯示在不同的序列中存在明顯的差別,，本文將重點介紹TSE序列該參數(shù)卡中各參數(shù)的意義，而其他序列如GRE序列Sequence參數(shù)卡的相關參數(shù)將在后續(xù)的文章中進行介紹,。

Define：定義

      該參數(shù)用于定義在TSE序列中能夠進行修改的參數(shù)是回波鏈還是每層的激發(fā)數(shù),，所以在Define參數(shù)卡中有兩個參數(shù)可供選擇，分別為Turbo factor和Echo trains,。如果在此參數(shù)中選擇了Turbo factor,，則在下述的該參數(shù)可以進行修改，而Echo trains per slice則是灰色的,，不能修改,。同樣的原理，如果在定義中選擇了Echo trains,，則Turbo factor是灰色的不能進行直接的修改,，Echo trains per slice參數(shù)可以直接修改。在常規(guī)的臨床應用中,，一般更多地進行Turbo factor參數(shù)的修改,。

Turbo factor：加速因子

      這是一個在臨床中使用較為頻繁的參數(shù)，加速因子是指TSE序列在進行一次射頻激發(fā)之后針對不同的相位編碼采集的回波數(shù),；在BLADE序列中該參數(shù)決定了刀片的寬度,。加速因子對一個序列的掃描時間及圖像質(zhì)量都有著較深的影響。

掃描時間：增大加速因子，將縮短掃描時間,，并且該參數(shù)與掃描時間成反比關系,。但是需要明確的是增大加速因子將增加重復時間TR或者在一個固定的TR內(nèi)能夠采集的層數(shù)減少。同時由于增加了加速因子,，導致180°重聚脈沖也隨之增加,，導致SAR值上升。

圖像質(zhì)量：加速因子增大后將導致點擴散函數(shù)的模糊引起圖像的模糊,，加速因子越大圖像越模糊,，舉一個比較極端的例子，在使用半傅里葉采集的快速自旋回波序列HASTE進行成像時,，掃描的時間特別短,，基本上能夠在亞秒級別內(nèi)獲得一副圖像，但是該圖像的組織細節(jié)要比常規(guī)的TSE序列差很多,。所以在進行參數(shù)優(yōu)化時需要權衡掃描時間與圖像細節(jié)的關系,。

     針對加速因子這個參數(shù)需要額外說明的是在進行3D SPACE（優(yōu)化可變翻轉角的快速自旋回波序列）成像時，加速因子可以設置到比較大的范圍,，甚至到幾百,，其原因是在該序列設計之初就通過控制每個回波的重聚脈沖使得采樣獲得的回波振幅與經(jīng)典的組織T2 decay不一樣，減輕了圖像的模糊效應,。關于SPACE序列的相關原理及臨床應用,，我們將在后續(xù)的文章中進行介紹。

Echo trains per slice：每次的回波鏈數(shù)

      該參數(shù)在臨床中較少進行直接的修改,，其意義就是用于定義進行一層完整的K空間采集需要的射頻激發(fā)數(shù),。例如在不使用其他任何技術的前提下，相位編碼方向矩陣為256的K空間,，在Turbo factor為16的情況下,，則Echo trains per slice也為16。根據(jù)原理要求,，Turbo factor乘以Echo trains per slice的結果必須大于或等于該序列所需要采集的相位編碼數(shù),。當修改turbo factor時，系統(tǒng)會自動更改Echo trains per slice,，而該參數(shù)的減小才將最終影響掃描時間,，加速因子的增加不一定會縮短掃描時間。

Phase correction：相位校正

      在序列的掃描過程中,，往往會存在渦流或梯度延遲等硬件因素的影響導致每個回波的相位出現(xiàn)偏差,，這種偏差在重建之后的表現(xiàn)就是圖像的偽影。為了減輕這種偽影有必要在序列中增加相位校正的功能,。但是并不是所有的校正都能帶來好的影響,，例如大視野掃描的時候,，由于掃描范圍太大，出現(xiàn)渦流或其他干擾因素增多,，這些因素疊加在一起產(chǎn)生的相位偏差通過相位校正將可能出現(xiàn)反效果,，使得圖像的偽影更多。所以在該參數(shù)中有以下三個選項可供選擇：

Automatic：自動,，是指系統(tǒng)將根據(jù)掃描設置的參數(shù)自動決定該序列是否使用相位校正功能對采集的回波進行校正重建,。一般情況下，Automatic參數(shù)是默認選項,，是否進行相位校正由系統(tǒng)自動決定。

On：開啟,，是指序列無論使用什么掃描參數(shù),，系統(tǒng)都將使用相位校正功能對各回波進行校正。

Off：關閉,，系統(tǒng)將不使用相位校正功能,。

Acoustic Noise reduction：噪聲降低

     該參數(shù)的意義是用于決定該序列是否使用新的梯度時序設計方式以達到降低噪聲的目的。目前西門子機器上已經(jīng)更新研發(fā)出三代靜音技術,。第一代就是我們后續(xù)將要描述的梯度類型里的Whisper模式,，該模式使得梯度切換變慢而降低磁共振成像時的噪聲；第二代則是在硬件上作出優(yōu)化降低噪聲傳導,，例如將梯度線圈至于真空環(huán)境或者在磁體與梯度線圈間使用潤滑材料等,；第三代技術就是該參數(shù)卡中的降噪技術，將射頻和梯度間的等待間期利用起來進行更長時間的梯度切換以換取較慢的梯度爬升來降低噪聲,。

     第三代噪聲降低技術可以在基本不增加掃描時間和不損失圖像質(zhì)量的基礎上降低噪聲,，該技術可以應用于大部分的臨床應用序列中，例如TSE,，F(xiàn)LASH,，SWI，DWI等序列中,。

RF pulse type：射頻脈沖類型 

     該參數(shù)用于決定射頻脈沖使用的長度與輪廓,，不同長度與輪廓的射頻脈沖將對偽影控制及SAR產(chǎn)生重要的影響。在該參數(shù)中一般有以下三種射頻模式可供選擇：

Fast：快速,，是指利用很短的射頻脈沖進行組織激發(fā),，這種脈沖的輪廓比較粗糙，將誤激發(fā)周圍的組織導致出現(xiàn)層間干擾,，所以在利用這種模式進行掃描時建議使用更大的層間距以減小層間干擾,。利用快速的射頻脈沖類型也可以縮短TR，但是將導致SAR升高,。

Normal：正常,，該模式是指使用更好的射頻輪廓來進行組織激發(fā),，但是需要更長的射頻脈沖時間。在該模式下,，射頻激發(fā)的輪廓更好,，可以在更小的層間隔的情況下進行掃描而不出現(xiàn)層間干擾的現(xiàn)象。

Low SAR：低SAR模式,，該模式是利用更長的射頻脈沖時間來降低組織的特殊吸收率（SAR）,，并且使用該方式同樣也可以獲得良好的射頻激發(fā)輪廓降低組織的誤激發(fā)。在臨床掃描中,，序列如若發(fā)生超SAR的情況時,，可以將射頻脈沖類型改為Low SAR，但是該模式將降低掃描的性能,，如延長最短TE,。

Gradient mode：梯度模式

     該參數(shù)決定掃描序列使用怎樣的梯度切換率和梯度場強。不同的梯度模式將對掃描參數(shù)及噪聲產(chǎn)生影響,，同樣也可能影響周圍神經(jīng)刺激征的產(chǎn)生,。在梯度模式中有三種模式可供選擇：

Fast：快速模式，在該種模式下使用最大的梯度爬升率及梯度場強,，在該模式下可以縮短最小TE,，也將產(chǎn)生更大的噪聲。同時也有可能產(chǎn)生周圍神經(jīng)刺激征,。在進行彌散成像時,，一般使用Fast模式進行掃描，目的是縮短回波間隔,，既能降低TE時間,，又能減少圖像的模糊效應，但是掃描間期的噪聲增加,。

Normal：正常模式,，該模式是均衡梯度性能與掃描性能的一種方式。在該方式下,，掃描的參數(shù)能夠維持在合理的范圍,，但是掃描噪聲不會太大，出現(xiàn)周圍神經(jīng)刺激征的概率較小,。

Whisper：靜音模式,，該模式就是在保證掃描性能的前提下降低梯度性能以實現(xiàn)降低噪聲的目的。利用該模式,，序列將適當增加最小TE,，但是掃描過程中產(chǎn)生的噪聲將減小。

Hyperecho：強回波

      出現(xiàn)該參數(shù)的原因在于在TSE序列中,，高SAR的產(chǎn)生往往是由于180°重聚脈沖的作用,。根據(jù)SAR的計算原理可知,，SAR與射頻脈沖的角度成平方正比關系，激發(fā)或重聚脈沖的角度越大,，SAR越高,。為了在保證圖像質(zhì)量的前提下降低SAR（特別是高場或超高場MR），就可以使用Hyperecho的方式進行信號重聚,，在該方式下使用的重聚脈沖不是固定的角度,，而是在回波鏈中通過優(yōu)化不同的重聚脈沖角度進行信號采集以降低SAR。

Warp：金屬成像

      根據(jù)成像的原理可以知道,，在進行具有金屬植入物成像時,，由于金屬與周圍組織的磁化率存在差別可能產(chǎn)生磁化率偽影。為了減輕這種磁化率偽影可以通過以下幾種技術進行優(yōu)化：（1）盡量使用TSE序列代替GRE序列進行掃描以減輕磁化率偽影,；（2）,、使用STIR壓脂方式替代其他的壓脂方式以獲得更好的壓脂效果；（3）,、增大采樣帶寬以縮短回波間隔以減輕層面內(nèi)金屬的磁化率偽影；（4）,、增大激發(fā)射頻的帶寬以減輕層面間的磁化率偽影,，即Warp技術。所以勾選了Warp選項之后,，系統(tǒng)將增加激發(fā)射頻的帶寬來進行層面間的磁化率偽影,。在勾選了Warp之后，根據(jù)軟件版本和配置將出現(xiàn)VAT和SEMAC兩個不同的參數(shù),。這兩個參數(shù)都將對減輕磁化率偽影提供一些幫助,，具體的意義在此章中不做詳細的解釋，我們將在單獨的金屬成像中進行介紹,。

Reduce EC sensitivity：減輕渦流敏感性

      該參數(shù)的意義在于用于減輕成像對象由于梯度切換等產(chǎn)生的渦流偽影,。減輕渦流敏感性最直接的方法就是降低梯度的性能以減少渦流的產(chǎn)生。

      最后我們再來關注一下TSE序列的Assistant助手子參數(shù)卡,，該參數(shù)卡的目的是設置系統(tǒng)在檢測到序列超SAR時是否需要進行自動的參數(shù)調(diào)整以繼續(xù)進行掃描,。所以在該參數(shù)卡的mode選項中有三個參數(shù)可供選擇：

Off：關閉，是指不使用該子參數(shù)卡的相關功能,，當掃描序列檢測到超SAR時,，序列暫停掃描，并跳出超SAR提示信息以供操作者手動選擇參數(shù)修改來繼續(xù)進行掃描,。

TR：重復時間,，此時可以在mode下方的TR中設置可以接受的最長TR。當序列檢測到超SAR時,，系統(tǒng)將檢查該參數(shù)卡中的最長TR是否滿足要求,，如若在該TR下序列不超SAR,，則系統(tǒng)自動修改TR以自動進行掃描不需要手動進行參數(shù)調(diào)整。

Min flip angle：最小翻轉角,，是指當系統(tǒng)檢測到超SAR時,，首先查看利用該子參數(shù)卡中的最小翻轉角能否實現(xiàn)不超SAR掃描，如若可以,，系統(tǒng)將自動調(diào)整翻轉角進行掃描而不需要額外的手動調(diào)整,。

Allowed delay：允許的延時

      該參數(shù)是指當系統(tǒng)在序列掃描結束后設定的等待時間以讓病人散熱，在該期間系統(tǒng)不做任何工作,，處于無射頻無梯度狀態(tài),。

   以上就是TSE序列Sequence參數(shù)卡Part2和Assistant子參數(shù)卡相關參數(shù)的意義。以上的十幾期文章介紹的參數(shù)大部分都基于TSE序列進行解說,，較少涉及3D掃描序列及GRE序列,，EPI功能成像等參數(shù)，針對這個問題,，后續(xù)將單獨把這些內(nèi)容分章節(jié)進行介紹,。成像參數(shù)介紹完成之后，我們將引入成像質(zhì)量（偽影）專題,，敬請期待,！